飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）
仪器描述：TOF-SIMS是通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。仪器型号 TOF-SIMS 5 iontof ，PHI NanoTOFII；
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服务周期： 5个工作日
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· 内容简介
1. 可做项目：质谱、面扫、深度剖析。
2. TOF-SIMS的数据的纵坐标是计数，是强度，不同离子的产额不同，产额高的谱峰强，并不代表含量高，简单说就是强度和含量没有什么直接关系；
· 结果展示
1、质谱+分析
质谱测试：只给出校正后的图片，常规离子列表只分析10个客户指定的离子，超出10个按数据处理收费。
质谱+数据处理：会给出校正后的图片和所有的离子谱峰归属列表。
2、面扫+分析
导出客户指定离子的 MAPPING, 所有离子统一用Thermal 颜色:右边的色标可以看出黑色是分布没有的区域，黄色白色是分布较多的区域；
3、深度剖析+数据分析
仪器型号1：TOF-SIMS 5 iontof--快递交替模式--深度剖析
深度曲线-相对应的3D图
仪器型号2：PHI Nanotof
