椭偏仪（ELL）
仪器描述：椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高，适用于超薄膜，与样品非接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器。
预约次数： 1000次
服务周期： 5个工作日
96.5%
好评率
· 内容简介
a. n（折射率）,k（消光系数）值
b. 膜厚
常规椭偏仪的光谱测试范围370到1000nm，其他范围请咨询项目经理15210724833
膜厚的测试范围是0.5nm-10um。
· 结果展示
一般格式及数据处理如下说明（仅供参考，具体以实际测试为准，不同仪器会有差异）：
测试结果给出的是图片格式和txt格式测试结果。文本格式文件可以用EXCEL打开，Origin软件作图。
