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扫描电子显微镜(SEM)
仪器描述:扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。
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· 内容简介
· 结果展示

不同型号仪器结果形式会有差别,下面展示的是 Zeiss 品牌SEM的结果,仅供参考。

形貌一般每样品提供8-12张左右照片,能谱点扫每样提供2个点,线扫每样测试1个位置,面扫每样测试1个位置,具体根据样品的拍摄情况而定。

1、SEM 形貌的测试参数解读如下图所示:

       

 

2、SEM-EDS能谱测试参数解读如图所示:

 

点扫:

 

线扫:

 

面扫: