元素分析的检测办法有哪些？

<p style="margin: 0px 0px 1.4em; color: #121212; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-first-child="" data-pid="Qjv8I-EO"><span style="color: #236fa1;"><a style="color: #236fa1;" href="https://www.kexingtest.com/makings?nav_cate=89" target="_blank" rel="noopener"><strong>元素分析</strong></a></span>的检测办法：</p> <p style="margin: 0px 0px 1.4em; color: #121212; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-first-child="" data-pid="Qjv8I-EO"> </p> <p style="margin: 0px 0px 1.4em; color: #121212; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-first-child="" data-pid="Qjv8I-EO">物质成分分析包括采用光谱（紫外、红外、核磁）；色谱（气相色谱、液相色谱、离子色谱）；质谱（质谱仪、气质连用、液质连用）；能谱（荧光光谱、衍射光谱）；热谱（热重分仪、示差扫描量热仪）对样品进行综合解析，通过多种分离和分析方法的联合运用，对样品中的各组分进行定性和定量分析，从而确定物质中各组分的结构。在众多的分析方法中，X射线能谱分析是最常用的初步分析元素成分的方法，这种分析方法的优势是它能将微区元素成分与显微结构对应起来，是一种显微结构的成分分析，而一般的化学成分分析、荧光分析及光谱分析是分析较大范围内的平均元素组成，无法与显微结构对应，不能直接对材料显微结构与材料性能关系进行研究。</p> <p style="margin: 0px 0px 1.4em; color: #121212; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-first-child="" data-pid="Qjv8I-EO"> </p> <p style="margin: 0px 0px 1.4em; color: #121212; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-first-child="" data-pid="Qjv8I-EO">分析主要是确定物质中含量在0.1%以上的元素成分。在测试过程中，对于不导电的试样，例如陶瓷、剥离、有机物等，在电子探针的图像观察、成分分析时，会产生放电、电子束漂移、表面热损伤等现象，造成分析点无法定位、图像无法聚焦。大电子束流时，有些试样电子束轰击点会起泡、熔融。为了使试样表面具有导电性，必须在试样表面蒸镀一层金或者碳等导电膜。</p> <p style="margin: 0px 0px 1.4em; color: #121212; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-first-child="" data-pid="Qjv8I-EO"> </p> <p style="margin: 0px 0px 1.4em; color: #121212; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-first-child="" data-pid="Qjv8I-EO">X射线能谱分析方法中包括点分析、线分析和面分析。</p> <p style="margin: 0px 0px 1.4em; color: #121212; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-first-child="" data-pid="Qjv8I-EO"> </p> <p style="margin: 0px 0px 1.4em; color: #121212; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-first-child="" data-pid="Qjv8I-EO">点分析是指入射电子束固定照射（轰击）试样表面所选区域的分析。本方法适用于入射电子束对试样表面一个很小区域进行快速扫描。点分析区域一般为几个立方微米到几十个立方微米范围。该方法用于显微结构的定性或定量分析。</p> <p style="margin: 0px 0px 1.4em; color: #121212; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-first-child="" data-pid="Qjv8I-EO"> </p>