X射线荧光光谱仪-XRF测试价格-科兴测试平台

XRF分析是一项成熟的技术，利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时，一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质，加上快速测量和结构紧凑的台式仪器等优点，能实现现场分析并立即得到结果。本次科兴测试小编就带大家来了解一下XRF的基本原理！ X射线定义及特点 X射线是一种具有较短波长的高能电子波，由于内层轨道电子跃迁或高能电子减速产生，X射线的波长范围为0.01-10nm。介于紫外线和γ射线之间，并具有部分重叠峰。 X射线与可见光相比，除了具有波粒二象性的共同性质之外，还因其波长短、能量大而显示其特性： 1、穿透能力强； 2、折射率几乎等于1； 3、透过晶体时发生衍射。 X射线荧光光谱仪（XRF） 作为一种比较分析技术，在一定的条件下，利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析的仪器。 按激发、色散和探测方法的不同，分为： X射线光谱法（波长色散） X射线能谱法（能量色散） XRF的基本原理 X射线光管发射的原级X射线射入至样品，激发样品中各元素的特征谱线； 探测器记录特征波长的X射线光子N； 根据特定波长X射线光子N的强度，计算出该波长对应的元素浓度。 特征X射线如何产生 一束高能粒子（射线）在与原子的相互作用下，如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能时，可以将该轨道的电子逐出，形成空穴；此时原子处于非稳定状态，在极短的时间内，轨道的外层电子向空穴跃迁，使原子恢复至稳定状态。 测试须知： 1，可测元素范围：常规测试范围11Na-92U； 2，XRF测试仅能回收没有使用的样品，若样品量较少，一般不能回收； 3，样品量要求：粉末样品需要至少1g；块状、薄膜样品：块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间，标明测试面（表面光滑平整），样品在测试之前尽量干燥；液体样品提供20ml； 4，含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，再测试； 5，XRF的检测限约200个ppm左右，如果低于这个检测限，不太适合做XRF，对100ppm以下的数据只能作为参考，有的仪器噪声峰都有可能比这个高，请谨慎选择测试方式； 6，如因样品量过少或粘度低，硬度高等原因导致测试时必须用硼酸压片需另行支付压样成本费； 7，样品不焙烧、无法提供烧失量，请知悉； 8，由于受XRF光管Rh靶的影响，如若测试含Rh、Ru、In、Pd这类元素需提前说明。 默认采用压片法测试。 科兴测试平台XRF测试价格：可做单质/氧化物定性及定量分析，150元/样，其它价格问题可留言咨询。