球差电镜的测试范围及测试价格-科兴测试平台

<p style="margin: 0px 0px 1.4em; color: #191b1f; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-first-child="" data-pid="ghaISCfg"><a class=" wrap external" style="text-decoration-line: none; outline-offset: 0.2em; border-bottom: 1px solid #81858f; cursor: pointer; outline: red dotted 0.2em !important;" href="https://www.kexingtest.com/" target="_blank" rel="noopener" data-za-detail-view-id="1043">球差电镜</a>可以在两种模式下工作，分别是“TEM模式”和“STEM模式”，在TEM下更多是观察形貌，在STEM模式下，可以做EDS和EELS成分线扫和mapping。 <p style="margin: 1.4em 0px; color: #191b1f; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-pid="x_fd3VNC">(1)TEM模式： <p style="margin: 1.4em 0px; color: #191b1f; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-pid="bFhkkZ2Z">低倍形貌像、高分辨像、衍射、会聚束衍射、纳米束衍射，EFTEM(配GIF系统)，高分辨图像透射束和衍射束的相干像，衬度与焦聚有关，如果要解析原子结构像，样品要求比较薄，现在用户使用不多。 <p style="margin: 1.4em 0px; color: #191b1f; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-pid="qfwo04Ua">但如果想做原位电子显微学研究，一般都在此模式下进行。收集图像的设备是CCD。 <p style="margin: 1.4em 0px; color: #191b1f; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-pid="f0Fbengj">(2)STEM模式： <p style="margin: 1.4em 0px; color: #191b1f; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-pid="dC7va-y9">该模式下，可以使用各种明场和暗场探头收集各种图像。收集图像种类有HADDF\LADDF\BF\ABF(JEOL)，STEM对结构的表征更加细致。STEM和常规TEM一样也分明场和暗场，但STEM常常和HAADF(一种高角环状暗场探测器)连用以获得材料的微区结构及元素分布信息。它有优势得到的是原子结构像，像的衬度与原子序数有关，用户处理数据简单。EDS和EELS线扫描和面扫描都需要在此模式下进行。 <p style="margin: 1.4em 0px; color: #191b1f; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-pid="Xn7gedI5">(3)Mapping(EDS/EDX)： <p style="margin: 1.4em 0px; color: #191b1f; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-pid="yzknoeFL">用于获得合金、纳米管、壳体材料等的元素分布，进而辅助物相鉴定或结构分析等，能量分辨率130ev，B之后都可以测，一般Na之后会比较准。 <p style="margin: 1.4em 0px; color: #191b1f; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-pid="7htKBa7S">(4)EELS(电子能量损失谱)： <p style="margin: 1.4em 0px; color: #191b1f; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-pid="sGy8i6Cz">利用入射电子引起材料表面电子电离、价带电子激发、震荡等，发生非弹性散射，用损失的能量来获取表面原子的物理和化学信息的方法。通过电子能量损失谱(EELS)和X射线能谱仪(EDS)可以获得样品的化学信息，从而替换结构信息。能量分辨率0.7ev，理论上Li之后的元素EELS都能够测试，其中C、N、O、F、Mn、Fe、Ni、Cu等这些元素多些，但有些元素在高能区，不好测。 <p style="margin: 1.4em 0px; color: #191b1f; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-pid="-sziO5R7">(5)HRTEM(高分辨像)： <p style="margin: 1.4em 0px; color: #191b1f; font-family: -apple-system, BlinkMacSystemFont, 'Helvetica Neue', 'PingFang SC', 'Microsoft YaHei', 'Source Han Sans SC', 'Noto Sans CJK SC', 'WenQuanYi Micro Hei', sans-serif; background-color: #ffffff;" data-pid="0hH9foFR">用来观测晶体内部结构、原子排布以及位错、孪晶等精细结构。高分辨像是相位衬度像，是所有参加成像的衍射束与透射束因相位差而形成的干涉图像。 科兴测试平台可做球差电镜测试，可做EDS-mapping，EELS-mapping，测试价格在2400元/时起。