本链接为同步辐射吸收谱（XAFS）的高能机时预约链接。

可测元素激发能为20-40keV，如Ru、Rh、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb、Te、Cs、Ba、La等元素，请和相关负责的老师确认具体测试时间后再下单测试

同步辐射吸收谱（XAFS）可以分为三个部分，边前区（Pre-edge）、近边区(XANES)和扩展边（EXAFS），XANES可以得到 吸收原子的电子结构，包括价态，对称性，轨道占据等信息；EXAFS可以得到吸收原子周围配位信息，包括配位原子种类，键长，配位数，无序度等信息，是研究原子配位环境的重要分析手段！

本测试为同步辐射吸收谱（XAFS）的硬线预约链接，可测元素激发能为4k-20keV，具体为Ca-Mo的K边，或者能量位于该范围内的元素L边，如Pt的L3边。

XANES可以得到吸收原子的电子结构，包括价态、对称性、轨道占据等信息；EXAFS可以得到吸收原子
周围配位信息，包括配位原子种类、键长、配位数、无序度等。

XAFS软线（50-1500eV）：如碳氮氧等元素XANES、硬线（4000-20,000eV）：如铁钴镍等元素
XANES+EXAFS、高能（20,000-40,000eV）：如钯钌银等元素XANES+EXAFS。

同步辐射XRD常用于结构分析，物相鉴定，与常规X光相比，同步辐射光波长在大范围内连续可调，且准直性好，研究的尺度范围和分辨均优于常规X光。
同步辐射SAXS可探测样品内电子密度起伏，研究样品内缺陷和颗粒的尺寸、形状及其分布密度。

同步辐射XRD、SAXS

GISAXS/GIWAXS常用于分析薄膜、电池等材料的分子取向和晶体取向，是研究精细结构和分子堆积的重要方法。

GISAXS/GIWAXS常用于分析薄膜、电池等材料的分子取向和晶体取向，是研究精细结构和分子堆积的重要方法。