毛细管流变仪
1、恒速剪切测试：能够测量剪切应力与剪切速率曲线，和剪切粘度与剪切速率曲线； 2、恒压剪切测试：能够测量剪切粘度与剪切速率曲线； 3、阶梯剪切速率测试：根据用户的要求可以设置不同的剪切速率，能够测量剪切应力与剪切速率曲线，和剪切粘度与剪切速率曲线，并且在实验过程中根据曲线的变化来判断熔体破裂情况及熔体的最低流动压力和剪切速率； a)流动/不流动测试：测量粘度与温度关系，能精确测定最低流动温度； b)熔体破裂和流动不稳定性，研究流动不稳定性现象，包括熔体破裂和熔体断裂。
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纳米/微米压痕/划痕仪
纳米压痕仪主要用于测量纳米尺度的硬度与弹性模量，可以用于研究或测试薄膜等纳米材料的接触刚度、蠕变、弹性功、塑性功、断裂韧性、应力-应变曲线、疲劳、存储模量及损耗模量等特性。可适用于有机或无机、软质或硬质材料的检测分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩绘釉漆，光学薄膜，微电子镀膜，保护性薄膜，装饰性薄膜等等。基体可以为软质或硬质材料，包括金属、合金、半导体、玻璃、矿物和有机材料等。
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电阻率测试
电阻率测试仪是电阻率监视仪，电阻率和温度同时显示，并具有电阻率低限报警功能的在线面板式仪表，广泛应用于制药、电子、化工等行业对工业流程水质的在线监测。它采用了单片机技术，对纯水的温度系数、电极常数及电阻率低限报警点通过面板上的按键自由设置，是各种中小型纯水设备的理想配套仪表。
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离子电导率
一些束缚不牢固的离子在电场作用下成为载流子产生电导。可分为两类：一类是由构成晶体点阵的基本离子的迁移造成的，也称本征电导。另一类是掺杂物(杂质)离子运动造成的，称为掺杂物(杂质)离子电导。离子型晶体主要是离子电导，如氧化锆固溶体等。通常离子电导的能力随温度的升高而增强
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电化学工作站
电化学工作站（Electrochemical workstation） 是电化学测量系统的简称，是电化学研究和教学常用的测量设备。其主要有2大类，单通道工作站和多通道工作站，应用于生物技术、物质的定性定量分析等。
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铁电分析仪
铁电分析仪是一种用于材料科学领域的仪器，可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究
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硬度计
硬度计(Durometer)是测量物体硬度的仪器，测量刮板刀片的橡胶或塑料硬度，根据繁简程度可分为简单硬度测量计和复杂硬度测量计两种。其原理是用压头(金刚石圆锥或淬火钢球)在载荷(包括预载荷和主载荷)作用下，压入材料的塑性变形浓度来表示的。根据所测硬度单位分类有：洛氏硬度计、维氏硬度计、显微硬度计、布氏硬度计、邵氏硬度计、巴氏硬度计、里氏硬度计、韦氏硬度计等
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熔点仪
根据物理化学的定义，物质的熔点是指该物质由固态变为液态时的温度。在有机化学领域中，熔点测定是辨认物质本性的基本手段，也是纯度测定的重要方法之一。因此，熔点测定仪在化学工业、医药研究中据有重要地位，是生产药物、香料、染料及其他有机晶体物质的必备仪器。
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表面光电压谱仪
表面光电压谱仪，是测量表面光电压的仪器。 表面光电压是固体表面的光生伏特效应 ,是光致电子跃迁的结果。早在 1876 年 ,W. G. Adams就发现了这一现象,然而直到1948年才将这一效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上 ,这种光谱技术称为表面光电压技术(Sur face Photov oltaic Technique)或表面光电压谱(Sur facePhotov oltage Spectroscopy ,简称SPS) 。表面光电压技术是一种研究半导体特征参数的极佳途径 ,
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塞贝克系数与电阻率测试系统
赛贝克系数电导率测试系统是一种用于数学、力学、物理学领域的物理性能测试仪器，主要用于塞贝克系数与电导率测量。
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多功能样品强磁计（VSM)
振动样品磁强计(Vibrating Sample Magnetometer, VSM)是测量材料磁性的重要手段之一,广泛应用于各种铁磁、亚铁磁、反铁磁、顺磁和抗磁材料的磁特性研究中,它包括对稀土永磁材料、铁氧体材料、非晶和准晶材料、超导材料、合金、化合物及生物蛋白质的磁性研究等等。它可测量磁性材料的基本磁性能,如磁化曲线,磁滞回线,退磁曲线,热磁曲线等,得到相应的各种磁学参数,如饱和磁化强度Ms,剩余磁化强度,矫顽力He,最大磁能积,居里温度,磁导率(包括初始磁导率)等,对粉末、颗粒、薄膜、液体、块状等磁
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激光导热仪
仪器型号 ：NETZSCH LFA 457 MicroFlash/NETZSCH LFA 467；导热系数=热扩散*比热*密度 a. LFA 427/457: 直接测得厚度方向热扩散系数，尺寸为直径12.7mm或者方形10*10mm（尽可能到9.7-9.9mm的边长，大于10mm放不进去）的样品通过比较法得到样品比热，计算得到导热系数（需要自行提供样品的密度和厚度）； b. LFA467：直接测得水平方向热扩散系数，需通过蓝宝石法测试得到比热（额外收费），计算得到导热系数；面内热扩散测试适合高导超薄样
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霍尔效应测试仪
用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。
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密度分析仪
衡量感光材料曝光和显影后的变黑程度即黑度。在制版时，感光材料上的溴化银，受到光照作用，显影后还原成金属银，形成一定的阻光度。黑度大的，密度高；黑度小的，密度低。带有滤光片的测量计，还可以测量彩色原稿的彩色密度。
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激光粒度仪
激光粒度仪是通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小的仪器，采用Furanhofer衍射及Mie散射理论，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响。
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纳米粒度及Zeta电位测试仪（DLS）
主要分析液体介质中粒子或大分子的粒径、Zeta电位和分子量三个参数；能够进行趋势和自动滴定测量的功能，并且能够测量蛋白质的熔点。可分析所有能够稳定存在于溶液中作布朗运动的颗粒。
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流变仪
流变仪用于测定聚合物熔体，聚合物溶液、悬浮液、乳液、涂料、油墨和食品等流变性质的仪器。 流变学测量是观察高分子材料内部结构的窗口，通过高分子材料中不同尺度分子链的响应，可以表征高分子材料的分子量和分子量分布，能快速、简便、有效地进行原材料、中间产品和最终产品的质量检测和质量控制。
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摩擦磨损实验
通过这种试验可以比较材料的耐磨性优劣。磨损试验比常规的材料试验要复杂。首先需要考虑零部件的具体工作条件并确定磨损形式，然后选定合适的试验方法，以便使试验结果与实际结果较为吻合。
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单纤维拉伸仪
适用范围：用于测定各种单纤维、金属丝、头发、碳纤维等材料的断裂强力、断裂伸长率、定伸长负荷、定负荷伸长、蠕变等性能指标。
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万能试验机
万能试验机，集拉伸、弯曲、压缩、剪切、环刚度等功能于一体的材料试验机，主要用于金属、非金属材料力学性能试验，是工矿企业、科研单位、大专院校、工程质量监督站等部门的理想检测设备。
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